單晶片測試機之前端驅動電路設計

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姓名

余建朋(Jian-Pong Yu ) 查詢紙本館藏

畢業系所

電機工程研究所

論文名稱

單晶片測試機之前端驅動電路設計

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摘要(中)

傳統上測試機的前端驅動(PE)電路是將多個元件如參考電壓IC，驅動接收IC等組在一塊板子上。元件間由匯流排傳輸，因而限制住它的速度且面積大。在這個論文中，我們以CMOS待測物為目標來實現PE電路。我們使用tri-stae驅動器與寄生電感來達到規格的速度要求。我們使用兩個不同工作電壓區間的比較器來實現接收器。在電流負載裡我們用電流式數位類比轉換器來取代橋式二極體架構。最後，以TSMC 0.35μm 1P4M CMOS製程來實現我們設計的電路，並用Pre and post simulation 驗證設計的可能性。

關鍵字(中)

★ 前端驅動電路
★ 數位纇比轉換器
★ 有限狀態機器
★ 比較器
★ 測試機

關鍵字(英)

★ comparator
★ DAC
★ FSM
★ PE circuit
★ tester

論文目次

Contents
Chapter 1 Introduction……………………………….……………...1
1.1 Motivations……………………………………………………………………..1
1.2 Pin Electronic Survey…………………………………………………………...4
1.3 Thesis Organization……………………………………………………………9
Chapter 2 Architesture of Pin Electronic card Circuit…………….10
2.1 Architecture Overview………………………………………………………...10
2.2 Driver…………………………………………………………………………..10
2.3 Dual Comparator………………………………………………………………13
2.4 Dynamic Load………………………………………………………………….16
2.5 Digital to Analog Converter (DAC)……………………………………………18
2.6 FSM…………………………………………….………………………………21
2.7 Sample and Hold………………………………………………………………..23
Chapter 3 Spec Requirement and Simulation Result………………25
3.1 Spec Requirement………………………….…………………………………...25
3.2 Driver………………..…………………………………………………………26
3.3 Comparator……………………………………………………………………..27
3.4 Load…………………………………………………………………………….30
3.5 DAC and S/H…………..……………………………………………………….32
3.6 Summary………………………………………………………………………..34
Chapter 4 Chip Implement…………….…………………………….35
4.1 Design Flow…………………………….………………………………………35
4.2 Chip implement…………..…………………... ………………….…………….37
4.3 Test result……………………………………………………………………….41
Chapter 5 Conclusion………………………………………..……….44
Reference………………………………………..……….…………...45

參考文獻

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指導教授

蘇朝琴(Chauchin Su)

審核日期

2001-7-5

推文